siblog

昨年に引き続きAgilent Measurement Forumに参加。

昨年は2日間出席したが、今年は6月6日が High Speed Digital / Automotive Day と興味あるセッションが1日にまとまっていたので参加しやすかった。

午前中1本目は、東芝から芝浦工大の教授に転身された須藤さんによる基調講演で、テーマは高速デジタルの実装技術を展望したもの。おおむね、先日のJPCAショー併催のシンポジウムで取り上げられた内容と重複するもので、スルーホール(ビア)の影響、高周波損失、パワーインテグリティといった項目が並ぶ。解析結果が並べられており、資料は後々でも参考になりそう。
目新しい(というほどでもないが)内容としては、レシーバの入力容量による波形への影響、パッケージ・ボード接続部でのインピーダンス不整合、ガラスクロスによる差動線路スキューが取り上げられていた。いずれも他所でより詳しく発表されているで、例えば3つめのテーマはDesignCon 2007でのIntelの研究発表のほうがより深い考察であり、ここでは紹介程度に捉えておくべきだろう。

2本目も基調講演でAgilentのDave Ciproani氏による、オシロスコープの技術解説。昨年も同じようなテーマで話を聴いたが、やはり知らない世界で興味深い。例えば寄生成分がLCとなっているトコロに、ISIを回避するためあえてLを追加している、といったハナシはナルホドと感心させられる。

ランチの後、ジッタ測定入門編ということで、アジレントの岡崎さんによるセッション。ジッタに関する説明は過去DesignConでいくつかのセッションを聴講したが、ハイレベルすぎてついていけなかった。今セッションではBUJ (Bounded Uncorrelated Jitter)のような説明しにくい項目を省いて、本質的なジッタ解析をリアルタイムオシロを使った事例を示しながらの解説で、まさしく入門にうってつけだったのではないだろうか。最近はリアルタイムオシロのコンパニ